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Reflexionsspektroskopie : Grundlagen, Methodik, Anwendungen by James E. Lohr and Gustav Kortüm (1969, Trade Paperback)

About this product

Product Identifiers

PublisherSpringer Berlin / Heidelberg
ISBN-103662282704
ISBN-139783662282700
eBay Product ID (ePID)176377024

Product Key Features

Number of PagesVIII, 378 Pages
LanguageEnglish
Publication NameReflexionsspektroskopie : Grundlagen, Methodik, Anwendungen
SubjectSpectroscopy & Spectrum Analysis, Chemistry / Physical & Theoretical
Publication Year1969
TypeTextbook
Subject AreaScience
AuthorJames E. Lohr, Gustav Kortüm
FormatTrade Paperback

Dimensions

Item Weight20.9 Oz
Item Length9.3 in
Item Width6.1 in

Additional Product Features

Intended AudienceScholarly & Professional
Number of Volumes1 vol.
IllustratedYes
Table Of ContentI. Einführung.- II. Reguläre und diffuse Reflexion.- III. Einfach- und Mehrfachstreuung.- IV. Phänomenologische Theorien der Absorption und Streuung dicht gepackter Teilchen.- V. Experimentelle Prüfung der Kubelka-MunkTheorie.- VI. Methodik.- VII. Anwendungen.- VIII. Reflexionsspektren aus geschwächter Totalreflexion.- Anhang: Tabellen der Kubelka-Munk-Funktion.
SynopsisUnter Reflexionsspektroskopie versteht man die Untersuchung der von einer Oberfl che reflektierten Strahlung in bezug auf ihre spektrale Zusammensetzung im Vergleich zu der Zusammensetzung der einfallen- den Prim rstrahlung und auf die Winkelverteilung der Strahlungsleistung. Zwei Grenzf lle sind dabei wichtig: Entweder es handelt sich um regul re (Spiegel-) Reflexion von einer ideal ebenen Oberfl che, oder es handelt sich um diffuse Reflexion von einer ideal matten Oberfl che. Zwischen beiden Grenzfallen gibt es in Praxis alle m glichen berg nge. Ent- sprechend diesen Grenzfallen gibt es zwei prinzipiell verschiedene Metho- den der Reflexionsspektroskopie: Die eine besteht darin, aus der gemessenen regul ren Reflexion die optischen Konstanten n (Brechungsindex) und x (Absorptionsindex) des betreffenden Stoffes mit Hilfe der Fresnelschen Gleichungen in Ab- A. zu berechnen. Dieses ltere und recht h ngigkeit von der Wellenl nge umst ndliche Verfahren, das au erdem keine sehr genauen Resultate liefert, ist neuerdings von Fahrenfort insofern modifiziert worden, als man f r die Reflexion nicht die Phasengrenzfl che Luft/Probe benutzt, sondern die Phasengrenze zwischen einem Dielektrikum h heren Bre- chungsverm gens (nd und der Probe (n ). Absorbiert die Probe nicht, so 2 beobachtet man oberhalb eines bestimmten Einfallswinkels Total- reflexion. Trotzdem tritt bei engem (optischen) Kontakt der beiden Phasen doch eine geringe Energie infolge von Beugungserscheinungen an den R ndern des B ndels in die d nnere Phase ber, jedoch ist der Energieflu in beiden Richtungen durch die Phasengrenze hindurch gleich gro , so da man Totalreflexion findet. Absorbiert dagegen die Probe, so geht ein Teil der berf hrten Strahlungsenergie verloren, die Totalreflexion wird geschw cht., Unter Reflexionsspektroskopie versteht man die Untersuchung der von einer Oberflache reflektierten Strahlung in bezug auf ihre spektrale Zusammensetzung im Vergleich zu der Zusammensetzung der einfallen- den Primarstrahlung und auf die Winkelverteilung der Strahlungsleistung. Zwei Grenzfalle sind dabei wichtig: Entweder es handelt sich um regulare (Spiegel-) Reflexion von einer ideal ebenen Oberflache, oder es handelt sich um diffuse Reflexion von einer ideal matten Oberflache. Zwischen beiden Grenzfallen gibt es in Praxis alle moglichen Ubergange. Ent- sprechend diesen Grenzfallen gibt es zwei prinzipiell verschiedene Metho- den der Reflexionsspektroskopie: Die eine besteht darin, aus der gemessenen regularen Reflexion die optischen Konstanten n (Brechungsindex) und x (Absorptionsindex) des betreffenden Stoffes mit Hilfe der Fresnelschen Gleichungen in Ab- A. zu berechnen. Dieses altere und recht hangigkeit von der Wellenlange umstandliche Verfahren, das auerdem keine sehr genauen Resultate liefert, ist neuerdings von Fahrenfort insofern modifiziert worden, als man fur die Reflexion nicht die Phasengrenzflache Luft/Probe benutzt, sondern die Phasengrenze zwischen einem Dielektrikum hoheren Bre- chungsvermogens (nd und der Probe (n ). Absorbiert die Probe nicht, so 2 beobachtet man oberhalb eines bestimmten Einfallswinkels Total- reflexion. Trotzdem tritt bei engem (optischen) Kontakt der beiden Phasen doch eine geringe Energie infolge von Beugungserscheinungen an den Randern des Bundels in die dunnere Phase uber, jedoch ist der Energieflu in beiden Richtungen durch die Phasengrenze hindurch gleich gro, so da man Totalreflexion findet. Absorbiert dagegen die Probe, so geht ein Teil der uberfuhrten Strahlungsenergie verloren, die Totalreflexion wird geschwacht., Unter Reflexionsspektroskopie versteht man die Untersuchung der von einer Oberfläche reflektierten Strahlung in bezug auf ihre spektrale Zusammensetzung im Vergleich zu der Zusammensetzung der einfallen­ den Primärstrahlung und auf die Winkelverteilung der Strahlungsleistung. Zwei Grenzfälle sind dabei wichtig: Entweder es handelt sich um reguläre (Spiegel-) Reflexion von einer ideal ebenen Oberfläche, oder es handelt sich um diffuse Reflexion von einer ideal matten Oberfläche. Zwischen beiden Grenzfallen gibt es in Praxis alle möglichen Übergänge. Ent­ sprechend diesen Grenzfallen gibt es zwei prinzipiell verschiedene Metho­ den der Reflexionsspektroskopie: Die eine besteht darin, aus der gemessenen regulären Reflexion die optischen Konstanten n (Brechungsindex) und x (Absorptionsindex) des betreffenden Stoffes mit Hilfe der Fresnelschen Gleichungen in Ab­ A. zu berechnen. Dieses ältere und recht hängigkeit von der Wellenlänge umständliche Verfahren, das außerdem keine sehr genauen Resultate liefert, ist neuerdings von Fahrenfort insofern modifiziert worden, als man für die Reflexion nicht die Phasengrenzfläche Luft/Probe benutzt, sondern die Phasengrenze zwischen einem Dielektrikum höheren Bre­ chungsvermögens (nd und der Probe (n ). Absorbiert die Probe nicht, so 2 beobachtet man oberhalb eines bestimmten Einfallswinkels Total­ reflexion. Trotzdem tritt bei engem (optischen) Kontakt der beiden Phasen doch eine geringe Energie infolge von Beugungserscheinungen an den Rändern des Bündels in die dünnere Phase über, jedoch ist der Energiefluß in beiden Richtungen durch die Phasengrenze hindurch gleich groß, so daß man Totalreflexion findet. Absorbiert dagegen die Probe, so geht ein Teil der überführten Strahlungsenergie verloren, die Totalreflexion wird geschwächt.
LC Classification NumberQD95-96